掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。