對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

影響較大的散射線通常來自（）