利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

每種晶體物質都有自己特定的晶體結構，晶體結構不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

根據衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

關于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產生衍射的晶面為（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數時，產生系統(tǒng)消光。