A.光衍射效應(yīng)
B.光波波長(zhǎng)
C.光干涉效應(yīng)
D.光折射效應(yīng)
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A.實(shí)現(xiàn)了點(diǎn)對(duì)點(diǎn)求解初相位
B.需要進(jìn)行相移
C.精度高
D.測(cè)量速度相對(duì)較慢
A.適合加工現(xiàn)場(chǎng)的使用
B.被測(cè)表面的反射率有要求
C.對(duì)表面傾斜很敏感
D.要求被測(cè)表面必須保持潔凈、無(wú)水和油質(zhì)，以保證測(cè)量結(jié)果
A.原子力顯微鏡
B.光學(xué)焦點(diǎn)探測(cè)儀
C.掃描電子顯微鏡
D.探針輪廓儀
A.可用于動(dòng)態(tài)測(cè)量
B.速度快
C.測(cè)量精度相對(duì)較低
D.只需要一幀或兩幀條紋圖
A.測(cè)量條紋間距
B.測(cè)量條紋寬度
C.解調(diào)出被測(cè)表面上各點(diǎn)的相位
D.測(cè)量條紋對(duì)比度
最新試題
計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。
紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。
軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。
幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。
以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。
激光衍射測(cè)量技術(shù)的基本原理是利用激光照明下的菲涅爾衍射效應(yīng)。
熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。
半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。
光伏探測(cè)器處于光電導(dǎo)工作模式，其外加偏壓為正向偏壓。