顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）

技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的（）機(jī)制。

在一般的工業(yè)探傷中，射線與物質(zhì)相互作用時(shí)，主要產(chǎn)生的兩個(gè)效應(yīng)是（）

高能X射線照射到物質(zhì)上以后，一般會(huì)出現(xiàn)以下哪幾種X射線（）

各省公司經(jīng)研院是220千伏及以上輸變電工程在（）階段以及土建專業(yè)的技術(shù)監(jiān)督實(shí)施主體。

X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有（）

隔離開關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用（）檢測(cè)。

采用手持式合金分析儀對(duì)電網(wǎng)材料進(jìn)行光譜分析的主要目的有（）

總的來看，直接數(shù)字成像系統(tǒng)的特點(diǎn)有（）

測(cè)量伸長(zhǎng)用的試樣圓柱或棱柱部分的長(zhǎng)度，包括（）