A.僅僅是表面缺陷
B.僅僅是表面下的缺陷
C.表面和表面下的缺陷
D.內(nèi)部很深的缺陷
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A.用通電法磁化
B.用線圈磁化
C.使電流通過置于工作中的導體
D.增加使用的安倍數(shù)
A.支桿法
B.磁軛法
C.線圈法
D.穿棒法
A.H=I/2πr2
B.H=I/2πr
C.H=Ir/2π
D.H=I/2πrR
A.以固定位置排列,方向互相抵消
B.以固定位置排列,在一個方向占優(yōu)勢
C.無規(guī)則的排列
D.與金屬晶粒結(jié)構(gòu)相同
A.北極
B.南極
C.北極和南極
D.任意
最新試題
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進入試件的檢測的方法。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
衍射時差法探傷,當有缺陷存在時,在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重,定量會受到影響。