A.外觀檢驗(yàn)
B.焊接接頭的內(nèi)部缺陷檢驗(yàn)
C.耐壓試驗(yàn)和泄漏試驗(yàn)
D.管道的硬度檢驗(yàn)
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A.不宜采用十字接頭
B.不應(yīng)在不銹鋼殼體上直接焊碳鋼支架
C.對(duì)低溫壓力容器和受交變載荷的壓力容器必需采用全焊透的結(jié)構(gòu)
D.可以采用十字接頭
A.圓筒部分的縱向焊縫
B.封頭的拼縫
C.長(zhǎng)頸法蘭與接管連接的接頭
D.嵌入式接管與殼體對(duì)接接頭
A.可用于形狀復(fù)雜的工件
B.同時(shí)可檢測(cè)出幾個(gè)方向的缺陷
C.不需要大型設(shè)備和水電
D.可檢測(cè)出近表面的缺陷
A.工件厚度
B.焦點(diǎn)尺寸
C.射線能量
D.焦距
A.外加磁場(chǎng)的強(qiáng)度
B.材料的磁導(dǎo)率
C.材料的磁感應(yīng)強(qiáng)度
D.缺陷的埋藏深度
最新試題
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
影響較大的散射線通常來(lái)自()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()