A.28
B.29
C.27
D.30
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.縱坐標(biāo)北端起逆時(shí)針
B.橫坐標(biāo)東端起逆時(shí)針
C.縱坐標(biāo)北端起順時(shí)針
D.橫坐標(biāo)東端起順時(shí)針
A.1954北京坐標(biāo)系
B.1954年北京坐標(biāo)系
C.1980西安坐標(biāo)系
D.1980年西安坐標(biāo)系
最新試題
光電測距中對(duì)向觀測的作用是減弱大氣折光、()等對(duì)測量結(jié)果的影響。
載波相位測量如觀測過程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒有中斷,則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù),通常為一個(gè)常數(shù),稱為()
RTK測量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于()。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中,一般使用()擦拭鏡片。
雙面水準(zhǔn)尺中,以下說法正確的是()。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時(shí)應(yīng)使用()
絕對(duì)定位定位精度為()。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m,B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀,儀器高為1.43m,平距DAB=341.23m,觀測A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″,則由此算得B點(diǎn)的高程為()