問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】用比較法評(píng)定晶粒度和夾雜級(jí)別時(shí)要注意哪些主要問(wèn)題？

答案： 主要注意以下幾點(diǎn)：
（1）拋光面清潔，無(wú)污點(diǎn)，晶粒要顯示清晰。
（2）在100倍顯微鏡下全面觀察...
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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】顯示奧氏體晶粒的方法主要有哪些？
答案：

其主要方法有直接顯示法、滲碳法、網(wǎng)狀鐵素體法、氧化法、直接淬火法、網(wǎng)狀滲碳體法和網(wǎng)狀珠光體法等。
問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】?jī)蓚€(gè)晶粒度評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍有哪些？
答案： GB/T6394-2002適用于測(cè)定完全或基本上由單相組成的金屬平均晶粒度測(cè)定。也適用于與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖形貌相似的任何組織。...
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