一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn)，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

影響較大的散射線(xiàn)通常來(lái)自（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足（）

射線(xiàn)照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)的影響包括（）

當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

發(fā)生康普頓散射的條件是（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）