橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。