A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離-波幅曲線 B、雙晶探頭檢測時(shí),缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50% C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%,即B1<50% D、以上都是
A、全面掃查 B、列線掃查 C、格子線掃查 D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查
A、階梯平底試塊 B、φ5平底孔試塊 C、CS2 D、CS3