在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

探頭的分辨力（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

影響較大的散射線通常來自（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）