質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。

在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了（）兩個(gè)基本近似。

透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長(zhǎng)期置于低溫狀態(tài)。

在DSC曲線中，如果出現(xiàn)明顯的峰，將峰出現(xiàn)部分的曲線向基線做積分，則會(huì)求出（）。

TMA測(cè)試材料的尺寸變化，因此只能利用它表征材料尺寸。

光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列（）來?yè)?dān)當(dāng)，其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。

衍射線在空間的分布（也就是晶面間距）主要反映（）。