A.同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過(guò)4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過(guò)-2s，表示存在隨機(jī)誤差
B.一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)X±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C.兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過(guò)+2s或-2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D.一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測(cè)定結(jié)果都超過(guò)+1s或-1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測(cè)定都超過(guò)+1s或-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E.十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

A.同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過(guò)4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過(guò)-2s，表示存在隨機(jī)誤差
B.一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C.兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過(guò)+2s或-2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D.一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測(cè)定結(jié)果都超過(guò)+1s或-1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測(cè)定都超過(guò)X+1s或X-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E.10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

A.同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過(guò)4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過(guò)-2s，表示存在隨機(jī)誤差
B.一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)X±3S，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C.兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過(guò)+2s或-2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D.一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測(cè)定結(jié)果都超過(guò)+1s或-1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測(cè)定都超過(guò)+1s或-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E.十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

A.同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過(guò)4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過(guò)-2s
B.一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過(guò)±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差
C.兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過(guò)+2s或-2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D.一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測(cè)定結(jié)果都超過(guò)+1s或-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E.十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

A.線
B.±s線
C.±2s線
D.±3s線
E.±4s線