微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）。

受力流動(dòng)成型和自由流動(dòng)成型方式均是在物料流動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行，區(qū)別在于有無外力作用。

電子探針的主要作用是用來進(jìn)行（）分析。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了（）兩個(gè)基本近似。

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。

下列（）不屬于透射電子顯微鏡的特點(diǎn)。