A.驗(yàn)證X線量子統(tǒng)計(jì)漲落對(duì)曝光范圍的限制 B.其他噪聲源應(yīng)不會(huì)限制低對(duì)比信號(hào)的探測(cè) C.使用專用的測(cè)試模體進(jìn)行測(cè)量 D.應(yīng)該使用對(duì)比度特定算法來處理圖像 E.無法建立一個(gè)量化的基準(zhǔn)值
A.R B.rad C.mmAl D.mGy E.mAs
A.應(yīng)該包括影像中央和周邊區(qū)域的分辨率 B.使用垂直和平行激光掃描方向的測(cè)試模體 C.可使用與激光掃描方向呈45度方向的模體 D.重點(diǎn)測(cè)量與激光掃描方向呈45度方向的分辨率 E.測(cè)量值不應(yīng)低于驗(yàn)收檢測(cè)值的10%