A. 脈沖反射法
B. 穿透法
C. 共振法
D. 以上都對(duì)
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A. 提高
B. 不變
C. 降低
D. 相同變化
A. 檢測(cè)系統(tǒng)
B. 時(shí)基線性
C. 垂直線性
D. 分辨率
A. 近場(chǎng)區(qū)
B. 聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域
C. 從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離
D. 以上都不是
A. CSK-ⅠA
B. CSK-ⅢA
C. CBⅡ
D. CS-2
A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器
B.取決于同步脈沖發(fā)生器
C.取決于換能器機(jī)械阻尼
D.隨分辨力提高而提高
最新試題
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭，探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值？
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件，利用工件100mm大平底，如何校準(zhǔn)同工件，厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度？
用2.5P14Z探頭檢檢測(cè)厚度T＝150mm鋼板（CL= 5900m/s），如何用鋼板完好部位底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度？
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度，若B2對(duì)準(zhǔn)50 ， B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少？此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少？
用K2.5斜探頭檢測(cè)T = 12mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？