A.電鏡只能觀察形貌;
B.電鏡可觀察形貌、成分分析、結(jié)構(gòu)分析和物相鑒定;
C.電鏡分析在材料研究中廣泛應(yīng)用,是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高,與分辨率無關(guān);
D.電鏡在材料研究中廣泛應(yīng)用,是因?yàn)榉糯蟊稊?shù)高,分辨率高。
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A.布拉格方程
B.勞厄方程
C.其中θ稱為衍射角
D.θ稱為布拉格角
下列譜圖所代表的化合物中含有的基團(tuán)包括()
A.A
B.B
C.C
D.D
A.表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)
B.內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)
C.表面形貌和成分價(jià)鍵
D.內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵
A.X射線衍射(XRD)和掃描電鏡(SEM)
B.SEM和透射電鏡(TEM)
C.波譜儀(WDS)和X射線光電子譜儀(XPS)
D.掃描隧道顯微鏡(STM)和SEM
A.拉曼光譜(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立葉變換紅外光譜(FTIR)
B.NMR、FTIR和WDS
C.SEM、TEM和STEM(掃描透射電鏡)
D.XRD、FTIR和Raman
最新試題
釔鋁石榴石激光器可在()nm的近紅外區(qū)使用。
在光電子能譜圖中,出現(xiàn)在主光電子峰高動(dòng)能端的伴峰可能是()
光電子的動(dòng)能受哪些因素影響()
X射線光譜能對(duì)元素周期表中所有元素進(jìn)行定性分析。
碳元素的主光電子峰是()
按照出射信號(hào)的不同,成分分析手段可以分為兩類:X光譜和電子能譜,出射信號(hào)分別是X射線和電子,下面哪一項(xiàng)不屬于成分分析手段?()
俄歇電子的化學(xué)位移較光電子更敏感。
對(duì)于化學(xué)價(jià)態(tài)相同的原子,俄歇化學(xué)位移的差別主要和原子間的電負(fù)性差有關(guān)。
俄歇過程和熒光過程是兩個(gè)競(jìng)爭(zhēng)的過程。
下列哪種因素不是影響紅外光譜譜峰位置的影響因素()