A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射
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A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B
A.端面垂直入射檢驗(yàn)
B.端面斜入射檢驗(yàn)
C.圓周面垂直入射檢驗(yàn)和圓周面斜入射檢驗(yàn)
D.以上都是
A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.接觸法縱波+橫波,端面掃查
B.水浸法縱波+橫波,端面掃查
C.水浸或接觸法縱波+橫波,周面掃查
D.縱波檢查內(nèi)部缺陷,表面波檢查表面缺陷
最新試題
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
儀器水平線性影響()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。