A.選擇合適的水程距離
B.選擇合適的探頭頻率
C.選擇合適的偏心距離
D.選擇合適的晶片尺寸
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A.接觸法單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法雙探頭
D.水浸法平探頭
A.薄壁管的檢測是以周向橫波檢測為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應(yīng)采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會引起折射角的擴(kuò)散,應(yīng)使用小晶片探頭
D.以上都對
A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對
A.橫波檢測薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍(lán)姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
儀器水平線性影響()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。