A.該產(chǎn)品的指標(biāo)是一個(gè)望大特性指標(biāo),即測試結(jié)果越大越好
B.該產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)的保證率為95%的合格率
C.該產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)的保證率為90%的合格率
D.要求測試結(jié)果滿足正態(tài)分布,同時(shí)保證率定義中t取值為-1.645
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A.判斷隨機(jī)誤差
B.判斷疏失誤差
C.進(jìn)行合格率判斷
D.進(jìn)行質(zhì)量管理水平的控制
A.正態(tài)分布
B.F分布
C.T分布
D.U檢驗(yàn)
A.F分布
B.t分布檢驗(yàn)
C.u檢驗(yàn)法
D.κ2檢驗(yàn)法
A.F分布
B.t分布檢驗(yàn)
C.u檢驗(yàn)法
D.k2檢驗(yàn)法
變異系數(shù)表達(dá)的是下列()誤差。
A.系統(tǒng)誤差
B.隨機(jī)誤差
C.疏失誤差
D.相對誤差
E.絕對誤差
最新試題
衍射線在空間的分布(也就是晶面間距)主要反映()。
掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大,電子束直徑()。
衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng),沒有考慮入射波與衍射波的相互作用。
高分辨成像含兩個(gè)基本過程,分別對應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。
熱塑性聚合物的熔點(diǎn)在DSC曲線的()部位。
在DSC曲線中,如果出現(xiàn)明顯的峰,將峰出現(xiàn)部分的曲線向基線做積分,則會(huì)求出()。
下列()不屬于透射電子顯微鏡的特點(diǎn)。
透射式高能電子衍射只適用于對薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比,電子穿透能力差。
與電子探針相比,離子探針的分析深度更深。
下列()不屬于物相定量分析方法。