A.兩光場(chǎng)分量偏振方向相互垂直不干涉
B.沒(méi)有光程差補(bǔ)償時(shí),超出光源相干長(zhǎng)度,無(wú)干涉項(xiàng)
C.探測(cè)器分別響應(yīng)兩光場(chǎng)分量
D.兩光場(chǎng)分量頻率相差大
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A.光源光譜寬度
B.光源輸出光功率
C.光源發(fā)光面尺寸
D.光源中心波長(zhǎng)
A.透射光檢測(cè)法
B.反射光檢測(cè)法
C.散射光檢測(cè)法
D.掃描頻譜分析法
A.準(zhǔn)分子激光器
B.皮秒激光器
C.飛秒激光器
D.阿秒激光器
A.在被測(cè)物上的光斑位置不變
B.光斑尺寸較大
C.信號(hào)類型為散射光,強(qiáng)度較低
D.系統(tǒng)尺寸較小
E.測(cè)量范圍小
A.線陣相機(jī)
B.面陣相機(jī)
C.PSD
D.光電二極管
E.APD
最新試題
光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括()。
以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是()。
對(duì)于相干檢測(cè)方法,()干涉條紋的間距,有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。
激光衍射測(cè)量技術(shù)的基本原理是利用激光照明下的菲涅爾衍射效應(yīng)。
計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是()。
成像測(cè)量法存在的問(wèn)題,是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí),會(huì)造成放大倍率的變化,這會(huì)()測(cè)量精度。因此,需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。
CMOS的字母C的英文單詞是()。
視角分辨率的單位通常為()。
下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是()。
在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中,每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次,紅外光被遮擋一次,光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。