問答題簡述AES、XPS與UPS譜峰化學(xué)位移的概念,AES、XPS與UPS的化學(xué)位移對于材料分析工作各有何作用?

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掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。

題型:判斷題

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

題型:判斷題

X射線衍射儀中,通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

題型:判斷題

熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。

題型:判斷題

電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。

題型:判斷題

掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型:單項(xiàng)選擇題

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子,能量基本上沒有損失。

題型:判斷題

熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

題型:判斷題