A.盡量從兩個(gè)方向進(jìn)行掃查,以保證聲束覆蓋整個(gè)孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過(guò)度區(qū)掃查時(shí),可能會(huì)出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
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A.利用受檢件底面回波;
B.利用受檢件側(cè)壁回波;
C.利用受檢件孔壁回波;
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號(hào)和觸發(fā)報(bào)警
B.能夠看清底波信號(hào)并保持信號(hào)穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號(hào)和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號(hào)
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號(hào)
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
A.0°~38°
B.38°~70°
C.0°~70°
D.45°~60°
A.僅需要去除可能存在裂紋區(qū)域的膠層
B.僅需要去除掃描區(qū)域的膠層
C.僅需要去除底面的膠層
D.去除全部的膠層
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
單探頭法容易檢出()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。