單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
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1.單項(xiàng)選擇題采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
2.單項(xiàng)選擇題對(duì)檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
3.單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
A.長度方向
B.周長方向
C.圓周方向
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長方向
B.長度方向
C.圓周方向
最新試題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對(duì)于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
題型:單項(xiàng)選擇題
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
題型:單項(xiàng)選擇題
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型:單項(xiàng)選擇題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流檢測中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:單項(xiàng)選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測量方法。
題型:單項(xiàng)選擇題
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
題型:單項(xiàng)選擇題