A.IP板本身
B.被檢驗(yàn)試件材料
C.IP板掃描讀出裝置性能
D.掃描讀出軟件與設(shè)置參數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.按基本空間分辨率決定的信噪比
B.按射線能量決定的信噪比
C.按放大倍數(shù)決定的信噪比
D.探測(cè)器可獲得的最高信噪比
A.像素尺寸
B.檢測(cè)布置放大倍數(shù)
C.采用射線能量
D.試件材料
A.輸入屏
B.閃爍體
C.光電(陰極)層
D.輸出屏
A.IP板
B.IP板掃描讀出裝置
C.A/D轉(zhuǎn)換器
D.掃描讀出軟件
A.它是一種直接轉(zhuǎn)換的輻射探測(cè)器
B.結(jié)構(gòu)包括閃爍體、非晶硅層和TFT陣列
C.閃爍體將輻射轉(zhuǎn)換為光
D.非晶硅層將光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)
最新試題
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
對(duì)于螺栓的檢測(cè),不適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
X射線管焦點(diǎn)有效面積取決于()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
下列關(guān)于X射線機(jī)的使用的描述不正確的是()
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()