A.最大反射波幅不超過評定線(未達(dá)到Ⅰ區(qū))的缺陷應(yīng)評為Ⅰ級。B.最大反射波幅超過評定線,但低于定量線的非裂紋類缺陷應(yīng)評為Ⅰ級。C.最大反射波幅位于DAC曲線Ⅱ區(qū)的非危險(xiǎn)性缺陷,其指示長度小于10mm時(shí),可按5mm計(jì)。D.最大反射波幅超過評定線的缺陷,檢測人員判定為裂紋等危害性缺陷時(shí),無論其波幅和尺寸如何均應(yīng)評定為Ⅳ級。
A.掃查面應(yīng)足夠?qū)?,以確保聲束覆蓋整個(gè)檢測區(qū)域。B.掃查面表面應(yīng)平滑,無焊接飛濺、鐵屑油垢及其他外部雜質(zhì)。C.掃查面和聲束反射面應(yīng)允許無干擾的耦合劑和反射物。D.掃查面表面的不平整度,不應(yīng)引起探頭和檢測表面的間隙大于1mm。
A.探頭掃查速度不應(yīng)大于150mm/s。B.相鄰的兩次掃查之間至少應(yīng)有探頭晶片寬度10%的重疊。C.以搜索缺陷為目標(biāo)的手工探頭掃查,其探頭行走方式應(yīng)呈“W”型,并有10°~15°的擺動。D.為確定缺陷的位置、方向、形狀,應(yīng)增加前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等各種掃查方式。