電子束與固體樣品作用時(shí)，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

根據(jù)衍襯運(yùn)動學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。