單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，母材厚度大于（）時，不得采用A級檢驗(yàn)
A.20mm
B.30mm
C.40mm
D.50mm
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1.單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，儀器在使用過程中，每隔（）個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定
A.一
B.二
C.三
D.四
2.單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，探頭的掃查速度不應(yīng)超過（），當(dāng)采用自動報(bào)警裝置掃查時不受此限制
A.150m/s
B.160m/s
C.170m/s
D.180m/s
3.單項(xiàng)選擇題對有余高的焊縫作斜平行掃查探測焊縫橫向缺陷時，應(yīng)（）
A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測
D.以上B和C
4.單項(xiàng)選擇題DL/T820-2002標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，探測中厚壁管焊接接頭橫向缺陷時，應(yīng)將距離—波幅曲線中各線靈敏度提高（）
A.6dB
B.8dB
C.10dB
D.以上都不對
5.單項(xiàng)選擇題當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸（）
A.一定大
B.不一定大
C.一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
最新試題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
題型：判斷題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
題型：判斷題
下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
題型：判斷題
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
題型：判斷題
觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
題型：判斷題
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊，當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測，若反面還需打底，則無需X射線檢測。
題型：判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型：判斷題
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
題型：判斷題
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
題型：判斷題