問(wèn)答題指出下列敘述中的錯(cuò)誤,并予以改正:“對(duì)材料AmBn的研究方法是:用X射線衍射儀器對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定;用掃描電鏡對(duì)材料進(jìn)行物相分析,確定其晶體學(xué)參數(shù);用透射電鏡對(duì)材料界面、結(jié)合組態(tài)進(jìn)行測(cè)試分析”。

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