在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

關于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

紅外光分為（）。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。