晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

拉曼光譜分析儀在使用過(guò)程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。

利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。