透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

TGA曲線反應(yīng)材料在實(shí)時(shí)溫度下失重速率的大小。

高分辨成像含兩個(gè)基本過程，分別對(duì)應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。

電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。

TMA測試材料的尺寸變化，因此只能利用它表征材料尺寸。

電子探針的主要作用是用來進(jìn)行（）分析。

樣品質(zhì)量偏大可能會(huì)造成失重曲線向高溫方向偏移。

微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）。