A.可得到4個(gè)因素的影響程度
B.4個(gè)因素的影響大小順序
C.可通過方差分析,進(jìn)行F檢驗(yàn)
D.可進(jìn)行誤差貢獻(xiàn)率的計(jì)算
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A.確定因素影響程度的大小順序
B.得出最優(yōu)水平組合
C.用數(shù)字量化區(qū)分試驗(yàn)條件與誤差的影響
D.評(píng)估各因素的影響顯著性
A.進(jìn)行極差分析
B.進(jìn)行F檢驗(yàn)
C.計(jì)算誤差貢獻(xiàn)率
D.進(jìn)行相關(guān)系數(shù)的檢驗(yàn)
A.評(píng)估各因素的顯著性
B.可以進(jìn)行誤差影響程度分析
C.可評(píng)估對(duì)總方差的貢獻(xiàn)率
D.可以獲得大致的顯著性水平
A.實(shí)現(xiàn)更優(yōu)的指標(biāo)
B.尋找某指標(biāo)的新測(cè)量方法
C.改變?cè)械脑牧象w系,如添加某工業(yè)廢棄物、納米材料、石墨烯等,嘗試加入新改性劑
D.某工藝流程改變,對(duì)原材料和配方等的影響
E.因素和水平的組合沒有現(xiàn)成的方法,尋找新的組合方法
A.各因素的影響程度大小順序
B.每個(gè)因素最優(yōu)水平
C.所有因素的最優(yōu)水平組合
D.缺因素安排時(shí),還可粗略估計(jì)誤差的影響程度
最新試題
在DSC曲線中,如果出現(xiàn)明顯的峰,將峰出現(xiàn)部分的曲線向基線做積分,則會(huì)求出()。
對(duì)于劇烈放熱效應(yīng)的特殊樣品,例如爆炸物等,應(yīng)加大熱分析設(shè)備的加熱速率。
DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為()。
樣品質(zhì)量偏大可能會(huì)造成失重曲線向高溫方向偏移。
一個(gè)體心立方晶體,下面哪個(gè)衍射斑點(diǎn)不消光?()
電子探針的主要作用是用來進(jìn)行()分析。
與電子探針相比,離子探針的分析深度更深。
透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比,電子穿透能力差。
光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列()來擔(dān)當(dāng),其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。
衍射線在空間的分布(也就是晶面間距)主要反映()。