A.電樞電壓引起的轉(zhuǎn)速降落
B.電動(dòng)機(jī)勵(lì)磁轉(zhuǎn)變
C.電樞電流
D.負(fù)載變化
E.溫度濕度
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A.三角形繞組
B.星形繞組
C.雙星形繞組
D.三星形繞組
E.雙三角形繞組
A.晶閘管門(mén)極斷開(kāi)或短路
B.觸發(fā)電路輸出功率小
C.主回路沒(méi)有接負(fù)載
D.脈沖變壓器二次側(cè)極性接錯(cuò)
E.晶閘管門(mén)極與陰極之間并接的二極管被擊穿短路
A.自然換相點(diǎn)
B.坐標(biāo)原點(diǎn)
C.U相起始點(diǎn)
D.V相起始點(diǎn)
A.放大區(qū)
B.截止區(qū)
C.失控區(qū)
D.飽和區(qū)
A.高電平
B.低電平
C.高電平或低電平
D.脈沖
最新試題
關(guān)于臨時(shí)用電負(fù)荷計(jì)算，不正確的是（）。
可以編譯匯編語(yǔ)言程序的軟件有（）。
調(diào)功器不觸發(fā)或某一電路為零，其產(chǎn)生的原因不包括（）。
電壓負(fù)反饋調(diào)速系統(tǒng)中一般還設(shè)有（）來(lái)防止觸發(fā)脈沖超出移相范圍。
直流電機(jī)及控制系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)包括（）。
集成運(yùn)算放大電路的各個(gè)組成部分中，故障率相對(duì)較高的是（）。
用ICT-33C型數(shù)字集成電路測(cè)試儀判別555芯片好壞，下列說(shuō)法正確的是（）。
電磁轉(zhuǎn)差離合器調(diào)速系統(tǒng)當(dāng)負(fù)載轉(zhuǎn)矩小于10%額定轉(zhuǎn)矩時(shí)，控制特性顯著惡化，負(fù)載將無(wú)法運(yùn)轉(zhuǎn)而發(fā)生失控現(xiàn)象，因而機(jī)械特性存在（）。
用窮舉測(cè)試法診斷編碼器組合邏輯電路故障，故障檢測(cè)率最高可達(dá)（）。
直流調(diào)速系統(tǒng)中磁場(chǎng)回路缺相，應(yīng)檢查（）電源板的數(shù)據(jù)是否正確，再檢查各有關(guān)的二極管與熔斷器。