掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。