A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
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A.約等于近場長度
B.約等于近場長度的0.6倍
C.約等于近場長度1.6倍
A.6db
B.12db
C.9db
D.3db
A.基層
B.乳化劑
C.高基層
D.保護層
A.近場區(qū)
B.遠場區(qū)
C.聲束擴散角以外區(qū)
D.儀器阻塞時間
A.顯示器
B.接收器
C.標準電路
D.同步電路
最新試題
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準,會使缺陷定位誤差增加。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。
衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
對于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。