濕法用磁粉粒度一般比干法小。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。

一般說來，進行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進行一次縱向磁化。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。

剩磁法不能用于干法檢測。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認細小缺陷磁痕時應(yīng)用2～10倍放大鏡進行觀察。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。

在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。