A.隨機(jī)變化
B.不變
C.變大
D.變小
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A.變大
B.不變
C.隨機(jī)變化
D.變小
A.光衍射效應(yīng)
B.光波波長(zhǎng)
C.光干涉效應(yīng)
D.光折射效應(yīng)
A.實(shí)現(xiàn)了點(diǎn)對(duì)點(diǎn)求解初相位
B.需要進(jìn)行相移
C.精度高
D.測(cè)量速度相對(duì)較慢
A.適合加工現(xiàn)場(chǎng)的使用
B.被測(cè)表面的反射率有要求
C.對(duì)表面傾斜很敏感
D.要求被測(cè)表面必須保持潔凈、無水和油質(zhì),以保證測(cè)量結(jié)果
A.原子力顯微鏡
B.光學(xué)焦點(diǎn)探測(cè)儀
C.掃描電子顯微鏡
D.探針輪廓儀
最新試題
具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
以下不屬于光纖干涉儀的有()。
半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。
計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是()。
成像測(cè)量法存在的問題,是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí),會(huì)造成放大倍率的變化,這會(huì)()測(cè)量精度。因此,需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。
熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。
下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是()。
以下屬于聲光調(diào)制晶體的有()。
光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括()。
紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。