精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

繪制坐標(biāo)方格網(wǎng)，方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確，誤差不超過(guò)（）。

GPS-RTK測(cè)圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

采用GNSS RTK（），可完全消除與接收衛(wèi)星有關(guān)的誤差（衛(wèi)星鐘誤差、星歷誤差），可大部分消除衛(wèi)星信號(hào)傳播延遲誤差（電離層誤差、對(duì)流層誤差），從而能夠提高定位精度。

水平角觀測(cè)誤差超限時(shí)，下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是（）。

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。