采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進行周向檢測時，缺陷定位說法正確的有（）。

用雙晶探頭檢測時，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測細長缺陷應(yīng)使探頭（）。

在沒有外加磁場作用時，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。

滲透檢測時，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強度足夠）下檢查時，下列說法正確的有（）。

超聲波探傷儀要盡量避免在（）場合使用。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補償技術(shù)是指利用（）填補工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

冷裂紋常見的有（）。

阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有（）。

單晶體金屬特點有（）。

顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?，在整張底片范圍出現(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。