單項(xiàng)選擇題一般來(lái)說(shuō)探頭指向角越小，主聲束越窄，從而可以提高對(duì)缺陷的（）和準(zhǔn)確判斷缺陷的位置。
A.分辨力
B.性質(zhì)
C.趨向
D.當(dāng)量
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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)橫波入射到平面缺陷時(shí)，會(huì)產(chǎn)生（）現(xiàn)象，這與橫波的入射角有關(guān)。
A.靈敏度降低
B.全透射
C.全反射
D.波型轉(zhuǎn)換
2.單項(xiàng)選擇題超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí)，這與波的（）有關(guān)。
A.傳播速度
B.頻率
C.波長(zhǎng)
D.入射角
3.單項(xiàng)選擇題管子的超聲波探傷槽形參考標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)把槽加工在管子的（）。
A.內(nèi)外表面
B.只在內(nèi)表面
C.只在外表面
D.從內(nèi)表面到壁厚的1/2深度
4.單項(xiàng)選擇題用單探頭發(fā)現(xiàn)與聲束取向不良的缺陷，應(yīng)該采用的頻率是（）。
A.越高越好
B.越低越好
C.適當(dāng)偏低的頻率
D.較平常為高的頻率
5.單項(xiàng)選擇題探傷面的修整應(yīng)能滿(mǎn)足（）的掃查。
A.半次波
B.一次波
C.一次半波
D.二次波
最新試題
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng)，聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的，所以有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
與一次射線相比，散射線的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū)，說(shuō)法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型：多項(xiàng)選擇題
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。
題型：多項(xiàng)選擇題
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見(jiàn)光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
題型：多項(xiàng)選擇題