A.由于Br-離子被吸附在AgBr表面,排斥了顯影劑負(fù)離子對(duì)未曝光的AgBr的還原作用
B.由于未曝光的AgBr晶體中含Ag+的質(zhì)點(diǎn)較小,催化作用弱
C.由于顯影溫度、時(shí)間、pH值適當(dāng)
D.A、B和C
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A.碳酸鈉
B.無(wú)水碳酸鈉
C.米吐爾
D.溴化鈉
A.連續(xù)X射線譜形
B.特征X射線譜形
C.連續(xù)和特征X射線譜形
D.以上都不是
A.300kV峰值
B.300kV平均值
C.300kV有效值
D.300kV均方根值
A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
A.單色窄線束
B.連續(xù)標(biāo)識(shí)X線束
C.寬束連續(xù)X線束
D.A、B和C
最新試題
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
冷裂紋常見的有()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。