A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
B、與界面二邊材料的密度有關(guān)
C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
D、與入射聲波波型有關(guān)
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A、透射能量大于入射能量
B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180º
C、超聲波無(wú)法透入水中
D、以上都不對(duì)
A、能量守恒定律在這里不起作用
B、透射能量大于入射能量
C、A與B都對(duì)
D、以上都不對(duì)
A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減
B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和投射
C、在傳播時(shí)的散射
D、擴(kuò)散角大小
A、剪切波
B、壓縮波
C、橫波
D、瑞利表面波
A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度
B、聲能的傳播速度
C、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積
D、以上都不是
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。