A、大于2
B、小于2
C、等于2
D、以上都有
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A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
A、表面波
B、橫波
C、縱波
D、B和C
A、0.5MHZ的縱波
B、2.5MHZ的橫波
C、10MHZ的爬波
D、5MHZ的表面波
A、表面波
B、縱波
C、橫波
D、三種波型的穿透力相同
A、反射波波型
B、入射角度
C、界面兩側(cè)的聲阻抗
D、以上都是
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。