A.絲狀粉末多晶;
B.塊狀粉末多晶;
C.塊狀單晶;
D.任意形狀。
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A.保持同步1﹕1;
B.2﹕1;
C.1﹕2;
D.1﹕0。
A.正裝法;
B.反裝法;
C.偏裝法;
D.A+B。
A.勞厄法;
B.粉末多法;
C.周轉(zhuǎn)晶體法;
D.德拜法。
A.光電子;
B.二次熒光;
C.俄歇電子;
D.A+C
A.短波限λ0;
B.激發(fā)限λk;
C.吸收限;
D.特征X射線
最新試題
簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí),可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫為()。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
變形振動(dòng)分為()。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說(shuō)法正確的是()。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。