問(wèn)答題試述衍射儀在入射光束、試樣形狀、試樣吸收，以及衍射線記錄等方面與德拜法有何異同？測(cè)角儀在工作時(shí)，如試樣表面轉(zhuǎn)到與入射線成30°角時(shí)，計(jì)數(shù)管與入射線成多少度角？
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3.問(wèn)答題敘述用X射線儀檢測(cè)的誤差來(lái)源。
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最新試題
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。
題型：多項(xiàng)選擇題
電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
變形振動(dòng)分為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型：判斷題
熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。
題型：判斷題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型：判斷題
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題