關于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內，就可以獲得良好的測試結果。

紅外光分為（）。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。