A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
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A、德布羅意
B、魯斯卡
C、德拜
D、布拉格
A、球差
B、像散
C、色差
D、背散
最新試題
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
關(guān)于stokes線(xiàn)和anti-Stokes線(xiàn),說(shuō)法正確的是()。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱(chēng)為非彈性背散射電子,能量基本上沒(méi)有損失。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線(xiàn)衍射花樣也就各不相同。
孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)()的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
晶體的X射線(xiàn)衍射方向反映了晶胞的()。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。